在以太網(wǎng)交換機(jī)性能測(cè)試過(guò)程中，經(jīng)常會(huì)遇到非設(shè)備性能因素導(dǎo)致的丟包，對(duì)測(cè)試產(chǎn)生困擾。這里簡(jiǎn)單羅列幾種：

    1、測(cè)試套上報(bào)FCS錯(cuò)誤。

　 一般是因?yàn)槟掣W(wǎng)線、光纖或某個(gè)模塊故障。解決方法為更換網(wǎng)線、光纖或模塊;

    2、小字節(jié)不丟包，大字節(jié)丟包。

    因?yàn)榇笞止?jié)占用buffer資源更多，所以這種情況一般是因?yàn)殚L(zhǎng)幀造成的資源不足引起的，可以通過(guò)改變buffer設(shè)置，來(lái)優(yōu)化測(cè)試結(jié)果;

    3、大字節(jié)不丟包，小字節(jié)丟包。

    這種情況一般是由描述符資源限制引起的。部分芯片會(huì)為每個(gè)報(bào)文在其入端口上分配一個(gè)報(bào)文描述符，相同流量情況下，小字節(jié)占用的報(bào)文描述符就多;

    4、MAC HASH沖突。

    在二層性能測(cè)試中，如果使用大量MAC地址測(cè)試，可能會(huì)出現(xiàn)少量MAC不能被芯片學(xué)習(xí)的情況，導(dǎo)致部分流量廣播，造成丟包。應(yīng)先測(cè)試設(shè)備的MAC HASH能力，然后調(diào)整MAC地址的數(shù)量;

    5、聚合端口HASH不均造成丟包。

    一般情況下，在多芯片或者堆疊環(huán)境中，芯片之間的級(jí)聯(lián)口，或者堆疊設(shè)備之間的堆疊鏈路，都會(huì)使用多個(gè)高速鏈路的聚合方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。在HASH算法不能保證絕對(duì)平均的情況下，會(huì)產(chǎn)生某條高速HASH到的流量速率過(guò)大，導(dǎo)致的丟包。

每期推薦：

CMIL-IERM228

交換芯片：盛科CTC7132

處理器：交換芯片內(nèi)嵌ARM53處理器

網(wǎng)絡(luò)接口：24路10/10/1000Base-T; 4路10GBase-X

內(nèi)存：1GBDDR4

存儲(chǔ)：1GB Nandflash,32MB SPI flash

接口形式：TTF推拉自鎖/光航插

散熱方式：無(wú)風(fēng)扇，導(dǎo)熱

層級(jí)：L2/L3

交換容量：<128G

管理接口：支持

管理串口：支持

一鍵重啟：支持

防護(hù)等級(jí)：IP65

設(shè)備尺寸（長(zhǎng)寬高）：482*88*400mm